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Superconformal Copper Deposition in Through Silicon Vias by Suppression-Breakdown

The evolution of superconformal Cu electrodeposition in high aspect ratio through silicon vias (TSVs) is examined as a function of polymer suppressor concentration, applied potential and hydrodynamics. Electroanalytical measurements in a CuSO(4)-H(2)SO(4)-Cl electrolyte are used to explore and quant...

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Detalhes bibliográficos
Publicado no:J Electrochem Soc
Main Authors: Josell, D., Moffat, T. P.
Formato: Artigo
Idioma:Inglês
Publicado em: 2018
Assuntos:
Acesso em linha:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC7543049/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/33041352
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