Ładuje się......
Noise analysis for through-focus scanning optical microscopy
A systematic noise-analysis study for optimizing data collection and data processing parameters for through-focus scanning optical microscopy (TSOM) is presented. TSOM is a three-dimensional shape metrology method that can achieve sub-nanometer measurement sensitivity by analyzing sets of images acq...
Zapisane w:
| Wydane w: | Opt Lett |
|---|---|
| 1. autor: | |
| Format: | Artigo |
| Język: | Inglês |
| Wydane: |
2016
|
| Hasła przedmiotowe: | |
| Dostęp online: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4823012/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/26872178 |
| Etykiety: |
Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
|