A carregar...
Noise analysis for through-focus scanning optical microscopy
A systematic noise-analysis study for optimizing data collection and data processing parameters for through-focus scanning optical microscopy (TSOM) is presented. TSOM is a three-dimensional shape metrology method that can achieve sub-nanometer measurement sensitivity by analyzing sets of images acq...
Na minha lista:
| Publicado no: | Opt Lett |
|---|---|
| Autor principal: | |
| Formato: | Artigo |
| Idioma: | Inglês |
| Publicado em: |
2016
|
| Assuntos: | |
| Acesso em linha: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4823012/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/26872178 |
| Tags: |
Adicionar Tag
Sem tags, seja o primeiro a adicionar uma tag!
|