טוען...
Noise analysis for through-focus scanning optical microscopy
A systematic noise-analysis study for optimizing data collection and data processing parameters for through-focus scanning optical microscopy (TSOM) is presented. TSOM is a three-dimensional shape metrology method that can achieve sub-nanometer measurement sensitivity by analyzing sets of images acq...
שמור ב:
| הוצא לאור ב: | Opt Lett |
|---|---|
| מחבר ראשי: | |
| פורמט: | Artigo |
| שפה: | Inglês |
| יצא לאור: |
2016
|
| נושאים: | |
| גישה מקוונת: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4823012/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/26872178 |
| תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|