Yüklüyor......

Noise analysis for through-focus scanning optical microscopy

A systematic noise-analysis study for optimizing data collection and data processing parameters for through-focus scanning optical microscopy (TSOM) is presented. TSOM is a three-dimensional shape metrology method that can achieve sub-nanometer measurement sensitivity by analyzing sets of images acq...

Ful tanımlama

Kaydedildi:
Detaylı Bibliyografya
Yayımlandı:Opt Lett
Yazar: Attota, Ravikiran
Materyal Türü: Artigo
Dil:Inglês
Baskı/Yayın Bilgisi: 2016
Konular:
Online Erişim:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4823012/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/26872178
Etiketler: Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!