Caracterización estructural y morfológica de superredes de Fe/Ti por reflectividad de rayos X y microscopía electrónica de transmisión de alta resolución

Las multicapas y superredes constituidas por el apilamiento de películas delgadas de diferentes materiales, entre ellos los magnéticos y no magnéticos, dan origen a la fabricación de diversos sensores electrónicos y espintrónicos. Las películas delgadas son crecidas principalmente empleando el méto...

Mô tả đầy đủ

Chi tiết về thư mục

Những tác giả chính:	M. Yactayo, Jaafar GHANBAJA, Olivier Copie, Justiniano Quispe Marcatoma, Carlos Landauro, Juan Carlos Rojas Sánchez
Định dạng:	Artigo
Ngôn ngữ:	Inglês
Được phát hành:	Instituto de Investigación de Física 2024-08-01
Loạt:	Revista de Investigación de Física
Những chủ đề:	película delgada nanoestructura caracterización estructural caracterización morfológica ciencia de los materiales
Truy cập trực tuyến:	https://revistasinvestigacion.unmsm.edu.pe/index.php/fisica/article/view/27171
Các nhãn:	Thêm thẻ Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!