Caracterización estructural y morfológica de superredes de Fe/Ti por reflectividad de rayos X y microscopía electrónica de transmisión de alta resolución

Las multicapas y superredes constituidas por el apilamiento de películas delgadas de diferentes materiales, entre ellos los magnéticos y no magnéticos, dan origen a la fabricación de diversos sensores electrónicos y espintrónicos. Las películas delgadas son crecidas principalmente empleando el méto...

முழு விளக்கம்

நூற்பட்டியல் விவரங்கள்

முதன்மை ஆசிரியர்கள்:	M. Yactayo, Jaafar GHANBAJA, Olivier Copie, Justiniano Quispe Marcatoma, Carlos Landauro, Juan Carlos Rojas Sánchez
வடிவம்:	Artigo
மொழி:	Inglês
வெளியிடப்பட்டது:	Instituto de Investigación de Física 2024-08-01
தொடர்:	Revista de Investigación de Física
பொருள்கள்:	película delgada nanoestructura caracterización estructural caracterización morfológica ciencia de los materiales
ஆன்லைன் அணுகல்:	https://revistasinvestigacion.unmsm.edu.pe/index.php/fisica/article/view/27171
குறிச்சொற்கள்:	குறிச்சொல்லை சேர்க்கவும் டாக்‌ஸ் இல்லை, இந்த பதிவுக்கு குறிச்சொல் சேர்க்கும் முதல் நபராக இருங்கள்!