Caracterización estructural y morfológica de superredes de Fe/Ti por reflectividad de rayos X y microscopía electrónica de transmisión de alta resolución
Las multicapas y superredes constituidas por el apilamiento de películas delgadas de diferentes materiales, entre ellos los magnéticos y no magnéticos, dan origen a la fabricación de diversos sensores electrónicos y espintrónicos. Las películas delgadas son crecidas principalmente empleando el méto...
Wedi'i Gadw mewn:
| Prif Awduron: | , , , , , |
|---|---|
| Fformat: | Artigo |
| Iaith: | Inglês |
| Cyhoeddwyd: |
Instituto de Investigación de Física
2024-08-01
|
| Cyfres: | Revista de Investigación de Física |
| Pynciau: | |
| Mynediad Ar-lein: | https://revistasinvestigacion.unmsm.edu.pe/index.php/fisica/article/view/27171 |
| Tagiau: |
Dim Tagiau, Byddwch y cyntaf i dagio'r cofnod hwn!
|
