Caracterización estructural y morfológica de superredes de Fe/Ti por reflectividad de rayos X y microscopía electrónica de transmisión de alta resolución

Las multicapas y superredes constituidas por el apilamiento de películas delgadas de diferentes materiales, entre ellos los magnéticos y no magnéticos, dan origen a la fabricación de diversos sensores electrónicos y espintrónicos. Las películas delgadas son crecidas principalmente empleando el méto...

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Détails bibliographiques

Auteurs principaux:	M. Yactayo, Jaafar GHANBAJA, Olivier Copie, Justiniano Quispe Marcatoma, Carlos Landauro, Juan Carlos Rojas Sánchez
Format:	Artigo
Langue:	Inglês
Publié:	Instituto de Investigación de Física 2024-08-01
Collection:	Revista de Investigación de Física
Sujets:	película delgada nanoestructura caracterización estructural caracterización morfológica ciencia de los materiales
Accès en ligne:	https://revistasinvestigacion.unmsm.edu.pe/index.php/fisica/article/view/27171
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