Caracterización estructural y morfológica de superredes de Fe/Ti por reflectividad de rayos X y microscopía electrónica de transmisión de alta resolución
Las multicapas y superredes constituidas por el apilamiento de películas delgadas de diferentes materiales, entre ellos los magnéticos y no magnéticos, dan origen a la fabricación de diversos sensores electrónicos y espintrónicos. Las películas delgadas son crecidas principalmente empleando el méto...
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|---|---|
| Формат: | Artigo |
| Мова: | Inglês |
| Опубліковано: |
Instituto de Investigación de Física
2024-08-01
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| Серія: | Revista de Investigación de Física |
| Предмети: | |
| Онлайн доступ: | https://revistasinvestigacion.unmsm.edu.pe/index.php/fisica/article/view/27171 |
| Теги: |
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