Caracterización estructural y morfológica de superredes de Fe/Ti por reflectividad de rayos X y microscopía electrónica de transmisión de alta resolución

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מידע ביבליוגרפי

Principais autores:	M. Yactayo, Jaafar GHANBAJA, Olivier Copie, Justiniano Quispe Marcatoma, Carlos Landauro, Juan Carlos Rojas Sánchez
פורמט:	Artigo
שפה:	Inglês
יצא לאור:	Instituto de Investigación de Física 2024-08-01
סדרה:	Revista de Investigación de Física
נושאים:	película delgada nanoestructura caracterización estructural caracterización morfológica ciencia de los materiales
גישה מקוונת:	https://revistasinvestigacion.unmsm.edu.pe/index.php/fisica/article/view/27171
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