Caracterización estructural y morfológica de superredes de Fe/Ti por reflectividad de rayos X y microscopía electrónica de transmisión de alta resolución

Las multicapas y superredes constituidas por el apilamiento de películas delgadas de diferentes materiales, entre ellos los magnéticos y no magnéticos, dan origen a la fabricación de diversos sensores electrónicos y espintrónicos. Las películas delgadas son crecidas principalmente empleando el méto...

وصف كامل

التفاصيل البيبلوغرافية

المؤلفون الرئيسيون:	M. Yactayo, Jaafar GHANBAJA, Olivier Copie, Justiniano Quispe Marcatoma, Carlos Landauro, Juan Carlos Rojas Sánchez
التنسيق:	Artigo
اللغة:	Inglês
منشور في:	Instituto de Investigación de Física 2024-08-01
سلاسل:	Revista de Investigación de Física
الموضوعات:	película delgada nanoestructura caracterización estructural caracterización morfológica ciencia de los materiales
الوصول للمادة أونلاين:	https://revistasinvestigacion.unmsm.edu.pe/index.php/fisica/article/view/27171
الوسوم:	إضافة وسم لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!