Caracterización estructural y morfológica de superredes de Fe/Ti por reflectividad de rayos X y microscopía electrónica de transmisión de alta resolución

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সম্পূর্ণ বিবরণ

গ্রন্থ-পঞ্জীর বিবরন

প্রধান লেখক:	M. Yactayo, Jaafar GHANBAJA, Olivier Copie, Justiniano Quispe Marcatoma, Carlos Landauro, Juan Carlos Rojas Sánchez
বিন্যাস:	Artigo
ভাষা:	Inglês
প্রকাশিত:	Instituto de Investigación de Física 2024-08-01
মালা:	Revista de Investigación de Física
বিষয়গুলি:	película delgada nanoestructura caracterización estructural caracterización morfológica ciencia de los materiales
অনলাইন ব্যবহার করুন:	https://revistasinvestigacion.unmsm.edu.pe/index.php/fisica/article/view/27171
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