Estudio de la morfología superficial e índice de refracción en películas nanométricas de silicio poroso
Guardado en:
| Publicado en: | Superficies y vacío |
|---|---|
| Autores principales: | , , |
| Formato: | Artigo |
| Publicado: |
Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C.
2001
|
| Materias: | |
| Acceso en línea: | https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=94201323 |
| Etiquetas: |
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
|