Citations de notices
Style de citation APA (7e éd.)
Sierra, R. P., Paredes, R. G. R., & Rodríguez, G. A. (2001). Estudio de la morfología superficial e índice de refracción en películas nanométricas de silicio poroso. Superficies y vacío.
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Style de citation Chicago (17e éd.)
Sierra, R. Peña, R. G. Romero Paredes, et G. Aguila Rodríguez. "Estudio De La Morfología Superficial E índice De Refracción En Películas Nanométricas De Silicio Poroso."
Superficies Y Vacío 2001.
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Style de citation MLA (9e éd.)
Sierra, R. Peña, et al. "Estudio De La Morfología Superficial E índice De Refracción En Películas Nanométricas De Silicio Poroso."
Superficies Y Vacío, 2001.
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