Estudio de la morfología superficial e índice de refracción en películas nanométricas de silicio poroso
Na minha lista:
| Publicado no: | Superficies y vacío |
|---|---|
| Principais autores: | , , |
| Formato: | Artigo |
| Publicado em: |
Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C.
2001
|
| Assuntos: | |
| Acesso em linha: | https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=94201323 |
| Tags: |
Sem tags, seja o primeiro a adicionar uma tag!
|