Estudio de la morfología superficial e índice de refracción en películas nanométricas de silicio poroso
שמור ב:
| הוצא לאור ב: | Superficies y vacío |
|---|---|
| Principais autores: | , , |
| פורמט: | Artigo |
| יצא לאור: |
Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C.
2001
|
| נושאים: | |
| גישה מקוונת: | https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=94201323 |
| תגים: |
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|