Quantitative strain analysis of InAs/GaAs quantum dot materials

Geometric phase analysis has been applied to high resolution aberration corrected (scanning) transmission electron microscopy images of InAs/GaAs quantum dot (QD) materials. We show quantitatively how the lattice mismatch induced strain varies on the atomic scale and tetragonally distorts the lattic...

Πλήρης περιγραφή

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Τόπος έκδοσης:Sci Rep
Κύριοι συγγραφείς: Vullum, Per Erik, Nord, Magnus, Vatanparast, Maryam, Thomassen, Sedsel Fretheim, Boothroyd, Chris, Holmestad, Randi, Fimland, Bjørn-Ove, Reenaas, Turid Worren
Μορφή: Artigo
Γλώσσα:Inglês
Έκδοση: Nature Publishing Group 2017
Θέματα:
Article
Διαθέσιμο Online:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC5368971/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/28349927
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1038/srep45376
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!

Παρόμοια τεκμήρια