QR-koodi

Advanced Modeling and Simulation of Multilayer Spin–Transfer Torque Magnetoresistive Random Access Memory with Interface Exchange Coupling

In advancing the study of magnetization dynamics in STT-MRAM devices, we employ the spin drift–diffusion model to address the back-hopping effect. This issue manifests as unwanted switching either in the composite free layer or in the reference layer in synthetic antiferromagnets—a challenge that be...

Täydet tiedot

Tallennettuna:
Bibliografiset tiedot
Päätekijät: Mario Bendra, Roberto Lacerda de Orio, Siegfried Selberherr, Wolfgang Goes, Viktor Sverdlov
Aineistotyyppi: Artigo
Kieli:Inglês
Julkaistu: MDPI AG 2024-04-01
Sarja:Micromachines
Aiheet:
Linkit:https://www.mdpi.com/2072-666X/15/5/568
Tagit: Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!