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Películas delgadas de aluminio: efectos inducidos por ciclos de corriente eléctrica

Se estudiaron películas delgadas de aluminio, depositadas por evaporación libre en sustratos de silicio, con las técnicas dedifracción de rayos X (DRX) y espectroscopía Auger. Se analizó la variación de la estructura cristalina superficial conincidencia rasante de rayos x, al aplicar una corriente D...

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Detalhes bibliográficos
Publicado no:Superficies y vacío
Main Authors: D.H. Aguilar, P. Quintana, J.E. Corona, A. I. Oliva, M. Aguilar
Formato: Artigo
Idioma:Espanhol
Publicado em: Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C. 2000
Assuntos:
Acesso em linha:https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=94201117
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