Películas delgadas de aluminio: efectos inducidos por ciclos de corriente eléctrica

Se estudiaron películas delgadas de aluminio, depositadas por evaporación libre en sustratos de silicio, con las técnicas dedifracción de rayos X (DRX) y espectroscopía Auger. Se analizó la variación de la estructura cristalina superficial conincidencia rasante de rayos x, al aplicar una corriente D...

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Pubblicato in:	Superficies y vacío
Autori principali:	D.H. Aguilar, P. Quintana, J.E. Corona, A. I. Oliva, M. Aguilar
Natura:	Artigo
Lingua:	Espanhol
Pubblicazione:	Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C. 2000
Soggetti:	Física, Astronomía y Matemáticas
Accesso online:	https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=94201117
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