Películas delgadas de aluminio: efectos inducidos por ciclos de corriente eléctrica
Se estudiaron películas delgadas de aluminio, depositadas por evaporación libre en sustratos de silicio, con las técnicas dedifracción de rayos X (DRX) y espectroscopía Auger. Se analizó la variación de la estructura cristalina superficial conincidencia rasante de rayos x, al aplicar una corriente D...
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| Gepubliceerd in: | Superficies y vacío |
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| Formaat: | Artigo |
| Taal: | Espanhol |
| Gepubliceerd in: |
Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C.
2000
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| Online toegang: | https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=94201117 |
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