Efecto de los contactos en películas delgadas de GeSbTe

Al comparar los parámetros eléctricos de películas delgadas de GeSbTe obtenidos por 3 métodos diferentes (impedancia,DC, resistividad 4 puntas) se encontró que las mediciones de impedancia son las mas apropiadas porque permite separar lacontribución del bulto y del contacto. Se determinó la dependen...

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Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής

Εκδόθηκε σε:	Superficies y vacío
Κύριοι συγγραφείς:	E. Morales Sánchez, A. Mendoza Galván, E. F. Prokhorov, J. González Hernández
Μορφή:	Artigo
Γλώσσα:	Espanhol
Έκδοση:	Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C. 2002
Θέματα:	Física, Astronomía y Matemáticas
Διαθέσιμο Online:	https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=94201507
Ετικέτες:	Προσθήκη ετικέτας Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!