Efecto de los contactos en películas delgadas de GeSbTe
Al comparar los parámetros eléctricos de películas delgadas de GeSbTe obtenidos por 3 métodos diferentes (impedancia,DC, resistividad 4 puntas) se encontró que las mediciones de impedancia son las mas apropiadas porque permite separar lacontribución del bulto y del contacto. Se determinó la dependen...
Uloženo v:
| Vydáno v: | Superficies y vacío |
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| Hlavní autoři: | , , , |
| Médium: | Artigo |
| Jazyk: | Espanhol |
| Vydáno: |
Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C.
2002
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| Témata: | |
| On-line přístup: | https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=94201507 |
| Tagy: |
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