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Caracterización por difracción de rayos-X de películas delgadas de CdSx Te1-x
Películas delgadas de CdSxTe1-x fueron crecidas en substratos de vidrio utilizando la técnica transporte de vapor en espacio reducidocombinada con evaporación libre (CSVT-FE, por sus siglas en ingles) usando la coevaporación de CdTe y CdS. La incorporación del Sfue controlada por medio de la tempera...
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| Publicado no: | Superficies y vacío |
|---|---|
| Main Authors: | , , , , |
| Formato: | Artigo |
| Idioma: | Espanhol |
| Publicado em: |
Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C.
2003
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| Assuntos: | |
| Acesso em linha: | https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=94216109 |
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