טוען...
Thickness effects on aluminum thin films
Aluminium thin films grown with different thickness on silicon substrates were analyzed by atomic force microscopy and grazing incidence x-ray techniques. Stress on surface film was found to be greater as the thickness increases because of the substrate history. Roughness measurements made on the AF...
שמור ב:
| הוצא לאור ב: | Superficies y vacío |
|---|---|
| Main Authors: | , , , , |
| פורמט: | Artigo |
| שפה: | Inglês |
| יצא לאור: |
Sociedad Mexicana de Ciencia y Tecnología de Superficies y Materiales A.C.
1999
|
| נושאים: | |
| גישה מקוונת: | https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=94200973 |
| תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|