Φορτώνει......
Sensitivity of quantitative symmetry measurement algorithms for convergent beam electron diffraction technique
We investigate the sensitivity of symmetry quantification algorithms based on the profile R-factor (R(p)) and the normalized cross-correlation (NCC) coefficient (γ). A DM (Digital Micrograph(©)) script embedded in the Gatan digital microscopy software is used to develop the symmetry quantification p...
Αποθηκεύτηκε σε:
| Τόπος έκδοσης: | Appl Microsc |
|---|---|
| Κύριοι συγγραφείς: | , , , |
| Μορφή: | Artigo |
| Γλώσσα: | Inglês |
| Έκδοση: |
Springer Singapore
2021
|
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC8254841/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/34216303 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1186/s42649-021-00060-z |
| Ετικέτες: |
Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|