טוען...
Improving the energy resolution of bent crystal X-ray spectrometers with position-sensitive detectors
Wavelength-dispersive high-resolution X-ray spectrometers often employ elastically bent crystals for the wavelength analysis. In a preceding paper [Honkanen et al. (2014). J. Synchrotron Rad. 21, 104–110] a theory for quantifying the internal stress of a macroscopically large spherically curved anal...
שמור ב:
| הוצא לאור ב: | J Synchrotron Radiat |
|---|---|
| Main Authors: | , , , , , , , |
| פורמט: | Artigo |
| שפה: | Inglês |
| יצא לאור: |
International Union of Crystallography
2014
|
| נושאים: | |
| גישה מקוונת: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4861880/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/24971972 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1107/S1600577514011163 |
| תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|