Đang tải...
Improving the energy resolution of bent crystal X-ray spectrometers with position-sensitive detectors
Wavelength-dispersive high-resolution X-ray spectrometers often employ elastically bent crystals for the wavelength analysis. In a preceding paper [Honkanen et al. (2014). J. Synchrotron Rad. 21, 104–110] a theory for quantifying the internal stress of a macroscopically large spherically curved anal...
Đã lưu trong:
| Xuất bản năm: | J Synchrotron Radiat |
|---|---|
| Những tác giả chính: | , , , , , , , |
| Định dạng: | Artigo |
| Ngôn ngữ: | Inglês |
| Được phát hành: |
International Union of Crystallography
2014
|
| Những chủ đề: | |
| Truy cập trực tuyến: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4861880/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/24971972 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1107/S1600577514011163 |
| Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|