লোডিং...
Improving the energy resolution of bent crystal X-ray spectrometers with position-sensitive detectors
Wavelength-dispersive high-resolution X-ray spectrometers often employ elastically bent crystals for the wavelength analysis. In a preceding paper [Honkanen et al. (2014). J. Synchrotron Rad. 21, 104–110] a theory for quantifying the internal stress of a macroscopically large spherically curved anal...
সংরক্ষণ করুন:
| প্রকাশিত: | J Synchrotron Radiat |
|---|---|
| প্রধান লেখক: | , , , , , , , |
| বিন্যাস: | Artigo |
| ভাষা: | Inglês |
| প্রকাশিত: |
International Union of Crystallography
2014
|
| বিষয়গুলি: | |
| অনলাইন ব্যবহার করুন: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4861880/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/24971972 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1107/S1600577514011163 |
| ট্যাগগুলো: |
ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|