Φορτώνει......
Improving the energy resolution of bent crystal X-ray spectrometers with position-sensitive detectors
Wavelength-dispersive high-resolution X-ray spectrometers often employ elastically bent crystals for the wavelength analysis. In a preceding paper [Honkanen et al. (2014). J. Synchrotron Rad. 21, 104–110] a theory for quantifying the internal stress of a macroscopically large spherically curved anal...
Αποθηκεύτηκε σε:
| Τόπος έκδοσης: | J Synchrotron Radiat |
|---|---|
| Κύριοι συγγραφείς: | , , , , , , , |
| Μορφή: | Artigo |
| Γλώσσα: | Inglês |
| Έκδοση: |
International Union of Crystallography
2014
|
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4861880/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/24971972 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1107/S1600577514011163 |
| Ετικέτες: |
Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|