Ładuje się......
Progress toward an aberration-corrected low energy electron microscope for DNA sequencing and surface analysis
Monochromatic, aberration-corrected, dual-beam low energy electron microscopy (MAD-LEEM) is a novel imaging technique aimed at high resolution imaging of macromolecules, nanoparticles, and surfaces. MAD-LEEM combines three innovative electron–optical concepts in a single tool: a monochromator, a mir...
Zapisane w:
| Główni autorzy: | , , , , , |
|---|---|
| Format: | Artigo |
| Język: | Inglês |
| Wydane: |
American Vacuum Society
2012
|
| Hasła przedmiotowe: | |
| Dostęp online: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC3634312/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/23847748 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1116/1.4764095 |
| Etykiety: |
Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
|