An Improved YOLOv8 Detection Algorithm Based on Screen Printing Defect Images
Micro-defects, such as ink spots, scratches, and sintering formed during the screen printing process of photovoltaic cells, significantly impair module performance. Traditional machine vision methods exhibit limited detection efficiency and high false-positive and missed-detection rates, while exist...
Đã lưu trong:
| Những tác giả chính: | , , , , , , , , , |
|---|---|
| Định dạng: | Artigo |
| Ngôn ngữ: | Inglês |
| Được phát hành: |
MDPI AG
2026-03-01
|
| Loạt: | Sensors |
| Những chủ đề: | |
| Truy cập trực tuyến: | https://www.mdpi.com/1424-8220/26/5/1604 |
| Các nhãn: |
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|