Spectroscopical analysis of luminescent silicon rich oxide films
Compositional, structural and optical properties of silicon rich oxide (SRO) films containing different silicon excess were investigated using X ray photoelectron spectroscopy (XPS), Raman spectroscopy, energy filtered transmission electron microscopy (EFTEM) and photoluminescence (PL). The XPS-Si2p...
محفوظ في:
| الحاوية / القاعدة: | Revista Mexicana de Física |
|---|---|
| المؤلفون الرئيسيون: | , , , , , , , |
| التنسيق: | Artigo |
| اللغة: | Inglês |
| منشور في: |
Sociedad Mexicana de Física A.C.
2007
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=57036163067 |
| الوسوم: |
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|