A simple de-dembedding method for on-wafer RF CMOS FET using two microstrip lines
This letter deals with the de-embedding of on-wafer CMOS FETs embedded in symmetrical and reciprocals pads. A de-embedding method, that uses a calibrated vector network analyzer and two microstrip lines fabricated on a lossy SiO2 -Si substrate, is introduced. The proposed method not only allows the...
Збережено в:
| Опубліковано в:: | Revista Mexicana de Física |
|---|---|
| Автори: | , , , , , |
| Формат: | Artigo |
| Мова: | Inglês |
| Опубліковано: |
Sociedad Mexicana de Física A.C.
2013
|
| Предмети: | |
| Онлайн доступ: | https://www.redalyc.org/articulo.oa?id=57028306011 |
| Теги: |
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|