Ładuje się......
Ptychographic X-ray speckle tracking
A method is presented for the measurement of the phase gradient of a wavefront by tracking the relative motion of speckles in projection holograms as a sample is scanned across the wavefront. By removing the need to obtain an undistorted reference image of the sample, this method is suitable for the...
Zapisane w:
| Wydane w: | J Appl Crystallogr |
|---|---|
| Główni autorzy: | , , , |
| Format: | Artigo |
| Język: | Inglês |
| Wydane: |
International Union of Crystallography
2020
|
| Hasła przedmiotowe: | |
| Dostęp online: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC7312131/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/32684891 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1107/S1600576720005567 |
| Etykiety: |
Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
|