Atomic-Resolution EDX, HAADF, and EELS Study of GaAs(1-x)Bi(x) Alloys

The distribution of alloyed atoms in semiconductors often deviates from a random distribution which can have significant effects on the properties of the materials. In this study, scanning transmission electron microscopy techniques are employed to analyze the distribution of Bi in several distinctl...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Vydáno v:Nanoscale Res Lett
Hlavní autoři: Paulauskas, Tadas, Pačebutas, Vaidas, Butkutė, Renata, Čechavičius, Bronislovas, Naujokaitis, Arnas, Kamarauskas, Mindaugas, Skapas, Martynas, Devenson, Jan, Čaplovičová, Mária, Vretenár, Viliam, Li, Xiaoyan, Kociak, Mathieu, Krotkus, Arūnas
Médium: Artigo
Jazyk:Inglês
Vydáno: Springer US 2020
Témata:
Nano Express
On-line přístup:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC7248167/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/32451638
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1186/s11671-020-03349-2
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo otaguje tento záznam!

Podobné jednotky