Ładuje się......

Elemental Identification by Combining Atomic Force Microscopy and Kelvin Probe Force Microscopy

[Image: see text] There are currently no experimental techniques that combine atomic-resolution imaging with elemental sensitivity and chemical fingerprinting on single molecules. The advent of using molecular-modified tips in noncontact atomic force microscopy (nc-AFM) has made it possible to image...

Szczegółowa specyfikacja

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
Wydane w:ACS Nano
Główni autorzy: Schulz, Fabian, Ritala, Juha, Krejčí, Ondrej, Seitsonen, Ari Paavo, Foster, Adam S., Liljeroth, Peter
Format: Artigo
Język:Inglês
Wydane: American Chemical Society 2018
Dostęp online:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC6097802/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/29800512
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1021/acsnano.7b08997
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!