טוען...

Elemental Identification by Combining Atomic Force Microscopy and Kelvin Probe Force Microscopy

[Image: see text] There are currently no experimental techniques that combine atomic-resolution imaging with elemental sensitivity and chemical fingerprinting on single molecules. The advent of using molecular-modified tips in noncontact atomic force microscopy (nc-AFM) has made it possible to image...

תיאור מלא

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
הוצא לאור ב:ACS Nano
Main Authors: Schulz, Fabian, Ritala, Juha, Krejčí, Ondrej, Seitsonen, Ari Paavo, Foster, Adam S., Liljeroth, Peter
פורמט: Artigo
שפה:Inglês
יצא לאור: American Chemical Society 2018
גישה מקוונת:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC6097802/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/29800512
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1021/acsnano.7b08997
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!