Kelvin probe force microscopy in liquid using electrochemical force microscopy

Conventional closed loop-Kelvin probe force microscopy (KPFM) has emerged as a powerful technique for probing electric and transport phenomena at the solid–gas interface. The extension of KPFM capabilities to probe electrostatic and electrochemical phenomena at the solid–liquid interface is of inter...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Beilstein J Nanotechnol
Hauptverfasser: Collins, Liam, Jesse, Stephen, Kilpatrick, Jason I, Tselev, Alexander, Okatan, M Baris, Kalinin, Sergei V, Rodriguez, Brian J
Format: Artigo
Sprache:Inglês
Veröffentlicht: Beilstein-Institut 2015
Schlagworte:
Full Research Paper
Online Zugang:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4311590/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/25671164
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.3762/bjnano.6.19
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