লোডিং...
Full data acquisition in Kelvin Probe Force Microscopy: Mapping dynamic electric phenomena in real space
Kelvin probe force microscopy (KPFM) has provided deep insights into the local electronic, ionic and electrochemical functionalities in a broad range of materials and devices. In classical KPFM, which utilizes heterodyne detection and closed loop bias feedback, the cantilever response is down-sample...
সংরক্ষণ করুন:
| প্রকাশিত: | Sci Rep |
|---|---|
| প্রধান লেখক: | , , , , , |
| বিন্যাস: | Artigo |
| ভাষা: | Inglês |
| প্রকাশিত: |
Nature Publishing Group
2016
|
| বিষয়গুলি: | |
| অনলাইন ব্যবহার করুন: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4981877/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/27514987 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1038/srep30557 |
| ট্যাগগুলো: |
ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|