تحميل...
Rapid and damage-free outgassing of implanted helium from amorphous silicon oxycarbide
Damage caused by implanted helium (He) is a major concern for material performance in future nuclear reactors. We use a combination of experiments and modeling to demonstrate that amorphous silicon oxycarbide (SiOC) is immune to He-induced damage. By contrast with other solids, where implanted He be...
محفوظ في:
| الحاوية / القاعدة: | Sci Rep |
|---|---|
| المؤلفون الرئيسيون: | , , , , , , , , |
| التنسيق: | Artigo |
| اللغة: | Inglês |
| منشور في: |
Nature Publishing Group UK
2018
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC5864747/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/29568069 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1038/s41598-018-23426-y |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|