Threefold rotational symmetry in hexagonally shaped core–shell (In,Ga)As/GaAs nanowires revealed by coherent X-ray diffraction imaging

Coherent X-ray diffraction imaging at symmetric hhh Bragg reflections was used to resolve the structure of GaAs/In(0.15)Ga(0.85)As/GaAs core–shell–shell nanowires grown on a silicon (111) substrate. Diffraction amplitudes in the vicinity of GaAs 111 and GaAs 333 reflections were used to reconstruct...

Mô tả đầy đủ

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Xuất bản năm:J Appl Crystallogr
Những tác giả chính: Davtyan, Arman, Krause, Thilo, Kriegner, Dominik, Al-Hassan, Ali, Bahrami, Danial, Mostafavi Kashani, Seyed Mohammad, Lewis, Ryan B., Küpers, Hanno, Tahraoui, Abbes, Geelhaar, Lutz, Hanke, Michael, Leake, Steven John, Loffeld, Otmar, Pietsch, Ullrich
Định dạng: Artigo
Ngôn ngữ:Inglês
Được phát hành: International Union of Crystallography 2017
Những chủ đề:
Research Papers
Truy cập trực tuyến:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC5458586/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/28656032
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1107/S1600576717004149
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!

Những quyển sách tương tự