טוען...
Profilometry of thin films on rough substrates by Raman spectroscopy
Thin, light-absorbing films attenuate the Raman signal of underlying substrates. In this article, we exploit this phenomenon to develop a contactless thickness profiling method for thin films deposited on rough substrates. We demonstrate this technique by probing profiles of thin amorphous silicon s...
שמור ב:
| הוצא לאור ב: | Sci Rep |
|---|---|
| Main Authors: | , , , , , , , , |
| פורמט: | Artigo |
| שפה: | Inglês |
| יצא לאור: |
Nature Publishing Group
2016
|
| נושאים: | |
| גישה מקוונת: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC5138622/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/27922033 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1038/srep37859 |
| תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|