Φορτώνει......
Profilometry of thin films on rough substrates by Raman spectroscopy
Thin, light-absorbing films attenuate the Raman signal of underlying substrates. In this article, we exploit this phenomenon to develop a contactless thickness profiling method for thin films deposited on rough substrates. We demonstrate this technique by probing profiles of thin amorphous silicon s...
Αποθηκεύτηκε σε:
| Τόπος έκδοσης: | Sci Rep |
|---|---|
| Κύριοι συγγραφείς: | , , , , , , , , |
| Μορφή: | Artigo |
| Γλώσσα: | Inglês |
| Έκδοση: |
Nature Publishing Group
2016
|
| Θέματα: | |
| Διαθέσιμο Online: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC5138622/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/27922033 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1038/srep37859 |
| Ετικέτες: |
Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|