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Ledinský, M., Paviet-Salomon, B., Vetushka, A., Geissbühler, J., Tomasi, A., Despeisse, M., . . . Fejfar, A. (2016). Profilometry of thin films on rough substrates by Raman spectroscopy. Sci Rep.

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Ledinský, Martin, Bertrand Paviet-Salomon, Aliaksei Vetushka, Jonas Geissbühler, Andrea Tomasi, Matthieu Despeisse, Stefaan De Wolf , Christophe Ballif , and Antonín Fejfar. "Profilometry of Thin Films On Rough Substrates By Raman Spectroscopy." Sci Rep 2016.

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Ledinský, Martin, et al. "Profilometry of Thin Films On Rough Substrates By Raman Spectroscopy." Sci Rep 2016.

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