Загрузка...
High-bandwidth multimode self-sensing in bimodal atomic force microscopy
Using standard microelectromechanical system (MEMS) processes to coat a microcantilever with a piezoelectric layer results in a versatile transducer with inherent self-sensing capabilities. For applications in multifrequency atomic force microscopy (MF-AFM), we illustrate that a single piezoelectric...
Сохранить в:
| Опубликовано в: : | Beilstein J Nanotechnol |
|---|---|
| Главные авторы: | , |
| Формат: | Artigo |
| Язык: | Inglês |
| Опубликовано: |
Beilstein-Institut
2016
|
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4778537/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/26977385 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.3762/bjnano.7.26 |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|