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Cracks observed to propagate discontinuously on the millisecond timescale

Ultra-fast diffraction and phase contrast imaging experiments on crack propagation in silicon, reported in the current issue of IUCrJ, are reviewed in the light of our present knowledge and its industrial importance.

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Detalhes bibliográficos
Publicado no:IUCrJ
Autor principal: Tanner, Brian K.
Formato: Artigo
Idioma:Inglês
Publicado em: International Union of Crystallography 2016
Assuntos:
Acesso em linha:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4775155/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/27006770
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1107/S2052252516002359
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