Φορτώνει......

Cracks observed to propagate discontinuously on the millisecond timescale

Ultra-fast diffraction and phase contrast imaging experiments on crack propagation in silicon, reported in the current issue of IUCrJ, are reviewed in the light of our present knowledge and its industrial importance.

Αποθηκεύτηκε σε:
Λεπτομέρειες βιβλιογραφικής εγγραφής
Τόπος έκδοσης:IUCrJ
Κύριος συγγραφέας: Tanner, Brian K.
Μορφή: Artigo
Γλώσσα:Inglês
Έκδοση: International Union of Crystallography 2016
Θέματα:
Διαθέσιμο Online:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4775155/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/27006770
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1107/S2052252516002359
Ετικέτες: Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!