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Oxidation precursor dependence of atomic layer deposited Al(2)O(3) films in a-Si:H(i)/Al(2)O(3) surface passivation stacks

In order to obtain a good passivation of a silicon surface, more and more stack passivation schemes have been used in high-efficiency silicon solar cell fabrication. In this work, we prepared a-Si:H(i)/Al(2)O(3) stacks on KOH solution-polished n-type solar grade mono-silicon(100) wafers. For the Al(...

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Detalhes bibliográficos
Publicado no:Nanoscale Res Lett
Main Authors: Xiang, Yuren, Zhou, Chunlan, Jia, Endong, Wang, Wenjing
Formato: Artigo
Idioma:Inglês
Publicado em: Springer US 2015
Assuntos:
Acesso em linha:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4385324/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/25852428
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1186/s11671-015-0798-2
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