X-ray diffraction strain analysis of a single axial InAs(1–x)P(x) nanowire segment

The spatial strain distribution in and around a single axial InAs(1–x)P(x) hetero-segment in an InAs nanowire was analyzed using nano-focused X-ray diffraction. In connection with finite-element-method simulations a detailed quantitative picture of the nanowire’s inhomogeneous strain state was achie...

Mô tả đầy đủ

Đã lưu trong:
Chi tiết về thư mục
Xuất bản năm:J Synchrotron Radiat
Những tác giả chính: Keplinger, Mario, Mandl, Bernhard, Kriegner, Dominik, Holý, Václav, Samuelsson, Lars, Bauer, Günther, Deppert, Knut, Stangl, Julian
Định dạng: Artigo
Ngôn ngữ:Inglês
Được phát hành: International Union of Crystallography 2015
Những chủ đề:
Research Papers
Truy cập trực tuyến:https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4294024/
https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/25537589
https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1107/S160057751402284X
Các nhãn: Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!

Những quyển sách tương tự