تحميل...
Beam-induced motion correction for sub-megadalton cryo-EM particles
In electron cryo-microscopy (cryo-EM), the electron beam that is used for imaging also causes the sample to move. This motion blurs the images and limits the resolution attainable by single-particle analysis. In a previous Research article (Bai et al., 2013) we showed that correcting for this motion...
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| التنسيق: | Artigo |
| اللغة: | Inglês |
| منشور في: |
eLife Sciences Publications, Ltd
2014
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4130160/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/25122622 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.7554/eLife.03665 |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|