লোডিং...
Beam-induced motion correction for sub-megadalton cryo-EM particles
In electron cryo-microscopy (cryo-EM), the electron beam that is used for imaging also causes the sample to move. This motion blurs the images and limits the resolution attainable by single-particle analysis. In a previous Research article (Bai et al., 2013) we showed that correcting for this motion...
সংরক্ষণ করুন:
| প্রধান লেখক: | |
|---|---|
| বিন্যাস: | Artigo |
| ভাষা: | Inglês |
| প্রকাশিত: |
eLife Sciences Publications, Ltd
2014
|
| বিষয়গুলি: | |
| অনলাইন ব্যবহার করুন: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC4130160/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/25122622 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.7554/eLife.03665 |
| ট্যাগগুলো: |
ট্যাগ যুক্ত করুন
কোনো ট্যাগ নেই, প্রথমজন হিসাবে ট্যাগ করুন!
|