Ładuje się......
Scanned Probe Oxidation onp-GaAs(100) Surface with an Atomic Force Microscopy
Locally anodic oxidation has been performed to fabricate the nanoscale oxide structures onp-GaAs(100) surface, by using an atomic force microscopy (AFM) with the conventional and carbon nanotube (CNT)-attached probes. The results can be utilized to fabricate the oxide nanodots under ambient conditio...
Zapisane w:
| Główni autorzy: | , |
|---|---|
| Format: | Artigo |
| Język: | Inglês |
| Wydane: |
Springer
2008
|
| Hasła przedmiotowe: | |
| Dostęp online: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC3244860/ https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1007/s11671-008-9144-2 |
| Etykiety: |
Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
|