تحميل...
Conductive-probe atomic force microscopy characterization of silicon nanowire
The electrical conduction properties of lateral and vertical silicon nanowires (SiNWs) were investigated using a conductive-probe atomic force microscopy (AFM). Horizontal SiNWs, which were synthesized by the in-plane solid-liquid-solid technique, are randomly deployed into an undoped hydrogenated a...
محفوظ في:
| المؤلفون الرئيسيون: | , , , , , , , , , , |
|---|---|
| التنسيق: | Artigo |
| اللغة: | Inglês |
| منشور في: |
Springer
2011
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC3211155/ https://ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/21711623 https://ncbi.nlm.nih.govhttp://dx.doi.org/10.1186/1556-276X-6-110 |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|